GB/T 13221-1991 超细粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法
作者:标准资料网 时间:2024-05-17 17:33:27 浏览:9004
来源:标准资料网
基本信息
| 标准名称： | 超细粉末粒度分布的测定 X射线小角散射法 |
| 英文名称： | Ultrafine powder-Determination of particle size distribution-Small-angle X-ray scattering method |
| 中标分类： |
冶金 >>
金属理化性能试验方法 >>
金属物理性能试验方法 |
| ICS分类： |
冶金 >>
金属材料试验 >>
金属材料无损检测
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| 替代情况： | 被GB/T 13221-2004代替 |
| 发布日期： | 1991-10-01 |
| 实施日期： | 1992-06-01 |
| 首发日期： | 1991-10-05 |
| 作废日期： | 2005-04-01 |
| 归口单位： | 中国有色金属工业协会 |
| 起草单位： | 冶金部钢铁研究总院 |
| 出版日期： | 1900-01-01 |
| 页数： | 8页 |
适用范围
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前言
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目录
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引用标准
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所属分类： 冶金 金属理化性能试验方法 金属物理性能试验方法 冶金 金属材料试验 金属材料无损检测
【英文标准名称】:Multi-elementmetalliccablesusedinanalogueanddigitalcommunicationandcontrol-Part3-2:sectionalspecificationforunscreenedcablescharacterisedupto100MHz-Workareaandpatchcordcables.
【原文标准名称】:用于模拟与数字通信和控制的多元件金属电缆.第3-2部分:100MHz及以下非屏蔽电缆分规范.工作区域和临时线路软线电缆
【标准号】:NFC93-542-3-2-2004
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:2004-03-01
【实施或试行日期】:2004-03-20
【发布单位】:法国标准化协会(AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:
【摘要】:
【中国标准分类号】:K13
【国际标准分类号】:33_120_20
【页数】:11P;A4
【正文语种】:其他
【英文标准名称】:Outlinesforsemiconductordevicesandintegratedcircuits;outline65A2(IECA65)
【原文标准名称】:半导体器件和集成电路用外壳.外壳65A2
【标准号】:DIN41870-8-1985
【标准状态】:作废
【国别】:德国
【发布日期】:1985-05
【实施或试行日期】:
【发布单位】:德国标准化学会(DIN)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:半导体二极管;二极管;发光二极管;外壳;行李箱;作标记;尺寸;半导体;半导体器件;符号;电气工程;电气外壳;电子工程;绝缘外壳
【英文主题词】:electronicengineering;insulatingenclosures;semiconductordiodes;diodes;semiconductordevices;electricenclosures;enclosures;semiconductors;symbols;marking;dimensions;light-emittingdiodes;electrical
【摘要】:
【中国标准分类号】:L55;L40
【国际标准分类号】:31_240
【页数】:3P;A4
【正文语种】:德语
